從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大範圍波長區域中的分光測定
近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大範圍波長的分光測定。
由於其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此最適用於光學元件與微小的電子部件等產品。
鏡片反射率測定機 (USPM-RU III)
USPM-RU III 反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率、不會與樣本背面的反射光產生干涉。是最適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。
特色：
USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發出的換代產品，是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響，能實現高速、高精度的分光測定。
應用：
- 消除背面反射光
- 測定時間短
- 可以測定高強度鍍膜的膜厚
- 可測定微小區域的反射率
- 支持XY色度圖、L*a*b*測定
