鏡片反射率測定機 (USPM-RU III)

USPM-RU III 反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率、不會與樣本背面的反射光產生干涉。是最適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統。

特色：

USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發出的換代產品，是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響，能實現高速、高精度的分光測定。

應用：

1. 消除背面反射光
2. 測定時間短
3. 可以測定高強度鍍膜的膜厚
4. 可測定微小區域的反射率
5. 支持XY色度圖、L*a*b*測定

鏡片反射率測定儀DM